Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Bücher - Springer Science+Business Media - 9780306421402 - 31. März 1986
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 1986 edition


Möchtest Du eine E-Mail, sobald der Artikel verfügbar ist?
Hast du ein Profil? Anmelden
Benachrichtigungen über neue Veröffentlichungen von Patrick Echlin erhalten
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

Noch nicht bewertet

Auch vorhanden als:

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


454 pages, biography

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 31. März 1986
ISBN13 9780306421402
Verlag Springer Science+Business Media
Seitenanzahl 454
Maße 156 × 234 × 27 mm   ·   721 g
Sprache Englisch  

Weitere Titel von Patrick Echlin

Alle anzeigen

Mehr vom selben Verlag