Microelectronic Manufacturing Yield Reliability - Hartmann - Bücher - SPIE Press - 9780819426482 - 30. Juni 2006
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Microelectronic Manufacturing Yield Reliability


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198 pages

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 30. Juni 2006
ISBN13 9780819426482
Verlag SPIE Press
Seitenanzahl 198
Maße 150 × 220 × 10 mm   ·   441 g   (Geschätztes Gewicht)

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