Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 29. Oktober 2010
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Preis
€ 248,49

Bestellware

Lieferdatum: ca. 21. Aug - 4. Sep
Benachrichtigungen über neue Veröffentlichungen von Weilie Zhou erhalten

Unsere Kunden sagen:

14-Tage-Rückgaberecht
Topbewertung bei Trustpilot
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

Noch nicht bewertet

Auch vorhanden als:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 29. Oktober 2010
ISBN13 9781441922090
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 522
Maße 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Sprache Englisch  
Redakteur Wang, Zhong Lin
Redakteur Zhou, Weilie

Mehr vom selben Verlag

Alle Titel von Weilie Zhou ansehen ( u. a. Gebundenes Buch und Taschenbuch )