High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31. Januar 2012
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Preis
€ 113,49

Bestellware

Lieferdatum: ca. 19. Aug - 2. Sep
Benachrichtigungen über neue Veröffentlichungen von Stephan Eggersgluss erhalten
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

Noch nicht bewertet

Auch vorhanden als:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 31. Januar 2012
Ursprünglich erschienen 2011
ISBN13 9781441999757
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 193
Maße 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Sprache Englisch  

Mehr vom selben Verlag