Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461377986 - 4. Oktober 2012
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Preis
€ 98,99

Bestellware

Lieferdatum: ca. 7. - 17. Aug

Unsere Kunden sagen:

14-Tage-Rückgaberecht
Topbewertung bei Trustpilot
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

Noch nicht bewertet

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 4. Oktober 2012
ISBN13 9781461377986
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 167
Maße 150 × 220 × 10 mm   ·   369 g
Sprache Englisch  
Redakteur Zorian, Yervant

Mehr vom selben Verlag