Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30. Januar 2012
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Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

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The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 30. Januar 2012
ISBN13 9781461588818
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 491
Maße 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Sprache Englisch  
Redakteur Meyer, Otto

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