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Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Otto Meyer Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition
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Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2
Otto Meyer
The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.
508 pages, biography
| Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
| Erscheinungsdatum | 30. Januar 2012 |
| ISBN13 | 9781461588818 |
| Verlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Seitenanzahl | 491 |
| Maße | 178 × 254 × 26 mm · 879 g |
| Sprache | Englisch |
| Redakteur | Meyer, Otto |
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