Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4. Juni 2013
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John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

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Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 4. Juni 2013
ISBN13 9781489915245
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 462
Maße 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Sprache Englisch  
Redakteur Thong, John T.L.

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