Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology - - Bücher - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156145 - 25. August 2020
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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology 2019 edition

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The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 25. August 2020
ISBN13 9783030156145
Verlag Springer Nature Switzerland AG
Seitenanzahl 408
Maße 150 × 220 × 10 mm   ·   652 g
Sprache Deutsch  
Redakteur Celano, Umberto

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