Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Bücher - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 12. Februar 2010
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition


Möchtest Du eine E-Mail, sobald der Artikel verfügbar ist?
Hast du ein Profil? Anmelden
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

Noch nicht bewertet

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 12. Februar 2010
ISBN13 9783642065965
Verlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Seitenanzahl 378
Maße 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Sprache Deutsch  
Redakteur Bhushan, Bharat
Redakteur Fuchs, Harald

Mehr vom selben Verlag