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Electron Microdiffraction J.M. Zuo 1992 edition
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Electron Microdiffraction
J.M. Zuo
Much of this book was written during a sabbatical visit by J. Of these, perhaps the most important stimulus to our work on convergent-beam electron diffraction resulted from a visit to the National Science Foundation's Electron Microscopy Facility at Arizona State University by Professor R.
358 pages, biography
| Medien | Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband) |
| Erscheinungsdatum | 31. Dezember 1992 |
| ISBN13 | 9780306442629 |
| Verlag | Springer Science+Business Media |
| Seitenanzahl | 358 |
| Maße | 156 × 234 × 23 mm · 739 g |
| Sprache | Englisch |