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Applied Measurement with jMetrik 1. Ausgabe
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
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Eller
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Applied Measurement with jMetrik 1. Ausgabe
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings
Medien | Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband) |
Erscheinungsdatum | 27. Juni 2014 |
ISBN13 | 9780415531955 |
Verlag | Taylor & Francis Ltd |
Seitenanzahl | 170 |
Maße | 152 × 229 × 15 mm · 362 g |
Sprache | Englisch |
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