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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications Greg Haugstad
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Greg Haugstad
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).
488 pages, Illustrations
| Medien | Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband) |
| Erscheinungsdatum | 16. Oktober 2012 |
| ISBN13 | 9780470638828 |
| Verlag | John Wiley & Sons Inc |
| Seitenanzahl | 528 |
| Maße | 163 × 244 × 31 mm · 794 g |
| Sprache | Englisch |
