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Electron Microscopy and Analysis Peter J. Goodhew 3. Ausgabe
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Electron Microscopy and Analysis
Peter J. Goodhew
A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.
254 pages, 147 colour illustrations
| Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
| Erscheinungsdatum | 30. November 2000 |
| ISBN13 | 9780748409686 |
| Verlag | Taylor & Francis Ltd |
| Seitenanzahl | 264 |
| Maße | 236 × 157 × 16 mm · 420 g |
| Sprache | Englisch |
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