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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition
Debashis Bhattacharya
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition
Debashis Bhattacharya
To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel.
160 pages, biography
| Medien | Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband) |
| Erscheinungsdatum | 31. Dezember 1989 |
| ISBN13 | 9780792390589 |
| Verlag | Springer |
| Seitenanzahl | 160 |
| Maße | 155 × 235 × 11 mm · 426 g |
| Sprache | Englisch |
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