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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1. Ausgabe
Pradeep Lall
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1. Ausgabe
Pradeep Lall
This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.
336 pages, 30 black & white tables
| Medien | Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband) |
| Erscheinungsdatum | 24. April 1997 |
| ISBN13 | 9780849394508 |
| Verlag | Taylor & Francis Inc |
| Seitenanzahl | 328 |
| Maße | 184 × 264 × 23 mm · 794 g |
| Sprache | Englisch |
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