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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
194 pages, black & white illustrations
| Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
| Erscheinungsdatum | 5. Juni 2014 |
| ISBN13 | 9781107408326 |
| Verlag | Cambridge University Press |
| Seitenanzahl | 194 |
| Maße | 152 × 229 × 10 mm · 412 g (Geschätztes Gewicht) |
| Sprache | Englisch |
| Redakteur | Butterbaugh, Jeffery W. |
| Redakteur | Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin) |
| Redakteur | Harris, H. Rusty (Texas A & M University) |
| Redakteur | Rachmady, Willy |
| Redakteur | Taylor, Bill |
