CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Bücher - Materials Research Society - 9781605111285 - 19. November 2009
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

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The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

179 pages, illustrations

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 19. November 2009
ISBN13 9781605111285
Verlag Materials Research Society
Seitenanzahl 194
Maße 160 × 236 × 18 mm   ·   432 g
Sprache Englisch  
Redakteur Butterbaugh, Jeffery W.
Redakteur Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Redakteur Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Redakteur Rachmady, Willy
Redakteur Taylor, Bill

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