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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Debashis Bhattacharya Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition
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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science
Debashis Bhattacharya
160 pages, biography
| Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
| Erscheinungsdatum | 26. September 2011 |
| ISBN13 | 9781461288190 |
| Verlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Seitenanzahl | 160 |
| Maße | 155 × 235 × 10 mm · 254 g |
| Sprache | Englisch |
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