![Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31. Mai 2013](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/693/9781461349693.jpg?joseph-goldstein-2013-scanning-electron-microscopy-and-x-ray-microanalysis-buch&class=scaled&v=1507060650)
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Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Joseph Goldstein
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Eller
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Joseph Goldstein
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
709 pages, biography
Medien | Bücher Buch |
Erscheinungsdatum | 31. Mai 2013 |
ISBN13 | 9781461349693 |
Verlag | Springer-Verlag New York Inc. |
Seitenanzahl | 689 |
Maße | 255 × 182 × 43 mm · 1,22 kg |
Sprache | Englisch |
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