Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 27. Dezember 2011
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Preis
€ 98,49

Bestellware

Lieferdatum: ca. 11. - 19. Jun

Unsere Kunden sagen:

14-Tage-Rückgaberecht
Topbewertung bei Trustpilot
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 27. Dezember 2011
ISBN13 9781461395379
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 372
Maße 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Sprache Englisch  
Redakteur Mureinik, Inez

Mere med samme udgiver

Alle Titel von Lev S. Zevin ansehen ( u. a. Taschenbuch )