Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - 8. Juni 2013
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

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This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 8. Juni 2013
ISBN13 9781475790290
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 454
Maße 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Sprache Englisch  

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