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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography
| Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
| Erscheinungsdatum | 8. Juni 2013 |
| ISBN13 | 9781475790290 |
| Verlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Seitenanzahl | 454 |
| Maße | 152 × 229 × 24 mm · 630 g |
| Sprache | Englisch |
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