Electron Microdiffraction - J.M. Zuo - Bücher - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489923554 - 31. Mai 2013
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J.M. Zuo
Electron Microdiffraction Softcover reprint of the original 1st ed. 1992 edition

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Much of this book was written during a sabbatical visit by J. Of these, perhaps the most important stimulus to our work on convergent-beam electron diffraction resulted from a visit to the National Science Foundation's Electron Microscopy Facility at Arizona State University by Professor R.

382 pages, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 31. Mai 2013
ISBN13 9781489923554
Verlag Springer-Verlag New York Inc.
Seitenanzahl 358
Maße 155 × 235 × 20 mm   ·   539 g
Sprache Englisch  

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