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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluss 2012 edition
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Stephan Eggersgluss
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
193 pages, 52 black & white tables, biography
| Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
| Erscheinungsdatum | 20. Oktober 2014 |
| ISBN13 | 9781489988478 |
| Verlag | Springer-Verlag New York Inc. |
| Seitenanzahl | 193 |
| Maße | 155 × 235 × 11 mm · 303 g |
| Sprache | Englisch |
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