Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation - Norbert Seifert - Bücher - now publishers Inc - 9781601983947 - 27. November 2010
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Norbert Seifert
Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation

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A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.

136 pages

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 27. November 2010
ISBN13 9781601983947
Verlag now publishers Inc
Seitenanzahl 136
Maße 157 × 234 × 8 mm   ·   199 g
Sprache Englisch  

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