Cross-Layer Reliability of Computing Systems - Materials, Circuits and Devices - Giorgio Di Natale - Bücher - Institution of Engineering and Technolog - 9781785617973 - 22. Oktober 2020
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Giorgio Di Natale
Cross-Layer Reliability of Computing Systems - Materials, Circuits and Devices

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This book presents state-of-the-art solutions for increasing the resilience of computing systems, both at single levels of abstraction and multi-layers. It is a valuable resource for researchers, postgraduate students and professional computer architects focusing on the dependability of computing systems.

328 pages

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 22. Oktober 2020
ISBN13 9781785617973
Verlag Institution of Engineering and Technolog
Seitenanzahl 328
Maße 156 × 234 × 20 mm   ·   703 g
Sprache Englisch  
Redakteur Bosio, Alberto (Full Professor, Ecole Centrale de Lyon - INL, France)
Redakteur Canal, Ramon (Associate Professor, Universitat Politecnica de Catalunya-Barcelona Tech (UPC), Facultat d'Informatica de Barcelona, Catalonia, Spain)
Redakteur Carlo, Stefano Di (Tenured Associate Professor, Politecnico di Torino, Italy)
Redakteur Gizopoulos, Dimitris (Professor, National and Kapodistrian University of Athens, Department of Informatics & Telecommunications, Greece)
Redakteur Natale, Giorgio Di (Director of Research, National Research Center of France, TIMA Laboratory, Grenoble, France)

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