Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar - Jianjun Gao - Bücher - SciTech Publishing Inc - 9781891121890 - 30. Juni 2010
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Jianjun Gao
Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar

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350 pages, illustrations

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 30. Juni 2010
ISBN13 9781891121890
Verlag SciTech Publishing Inc
Seitenanzahl 350
Maße 150 × 220 × 20 mm   ·   589 g

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