Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar - Jianjun Gao - Bücher - SciTech Publishing Inc - 9781891121890 - 30. Juni 2010
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Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar

Jianjun Gao

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Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar

350 pages, illustrations

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 30. Juni 2010
ISBN13 9781891121890
Verlag SciTech Publishing Inc
Seitenanzahl 350
Maße 589 g
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