Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Bücher - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - 14. Oktober 2021
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Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

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Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 14. Oktober 2021
ISBN13 9783030516123
Verlag Springer Nature Switzerland AG
Seitenanzahl 114
Maße 150 × 220 × 10 mm   ·   209 g
Sprache Deutsch  

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