Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Bücher - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 20. April 2022
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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

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This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 20. April 2022
ISBN13 9783030692117
Verlag Springer Nature Switzerland AG
Seitenanzahl 164
Maße 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Sprache Deutsch  

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