Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability - Synthesis Lectures on Solid State Materials and Devices - Young-Hee Kim - Bücher - Springer International Publishing AG - 9783031014246 - 31. Dezember 2007
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Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability - Synthesis Lectures on Solid State Materials and Devices

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Hard breakdown and soft breakdown, particularly the Weibull slopes, were studied under constant voltage stress. The origin of soft breakdown (first breakdown) was studied and the results suggested that the soft breakdown may be due to one layer breakdown in the bilayer structure (HfO2/SiO2: 4 nm/4 nm).


92 pages, X, 92 p.

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 31. Dezember 2007
ISBN13 9783031014246
Verlag Springer International Publishing AG
Seitenanzahl 92
Maße 234 × 191 × 13 mm   ·   220 g
Sprache Englisch  

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