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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques Sayil 1st ed. 2018 edition
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Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Sayil
The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.
93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.
| Medien | Bücher Buch |
| Erscheinungsdatum | 4. Dezember 2017 |
| ISBN13 | 9783319696720 |
| Verlag | Springer International Publishing AG |
| Seitenanzahl | 93 |
| Maße | 150 × 220 × 20 mm · 291 g |
| Sprache | Deutsch |