X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences - Shih-Lin Chang - Bücher - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540211969 - 24. Juni 2004
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences 2004 edition

Preis
€ 145,99

Bestellware

Lieferdatum: ca. 27. Okt - 4. Nov
Benachrichtigungen über neue Veröffentlichungen von Shih-Lin Chang erhalten
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

Noch nicht bewertet

Auch vorhanden als:

X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.


436 pages, biography

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 24. Juni 2004
ISBN13 9783540211969
Verlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Seitenanzahl 436
Maße 156 × 234 × 25 mm   ·   807 g
Sprache Deutsch  

Mehr vom selben Verlag