Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Bücher - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21. Februar 2006
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 21. Februar 2006
Ursprünglich erschienen 2005
ISBN13 9783540262428
Verlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Seitenanzahl 420
Maße 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Sprache Deutsch  
Redakteur Bhushan, Bharat
Redakteur Fuchs, Harald

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