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X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences Shih-Lin Chang Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition
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X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences
Shih-Lin Chang
X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.
436 pages, biography
| Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
| Erscheinungsdatum | 5. Dezember 2010 |
| ISBN13 | 9783642059476 |
| Verlag | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Seitenanzahl | 436 |
| Maße | 155 × 235 × 23 mm · 621 g |
| Sprache | Englisch |