Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Bücher - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12. Februar 2010
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Möchtest Du eine E-Mail, sobald der Artikel verfügbar ist?
Hast du ein Profil? Anmelden

Unsere Kunden sagen:

14-Tage-Rückgaberecht
Topbewertung bei Trustpilot
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

Noch nicht bewertet

Auch vorhanden als:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 12. Februar 2010
ISBN13 9783642065699
Verlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Seitenanzahl 420
Maße 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Sprache Deutsch  
Redakteur Bhushan, Bharat
Redakteur Fuchs, Harald

Mehr vom selben Verlag