Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Bücher - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 1. November 2012
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.


554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 1. November 2012
ISBN13 9783709172049
Verlag Springer Verlag GmbH
Seitenanzahl 554
Maße 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Sprache Englisch  

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