Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering - Lecture Notes in Physics - Yoshida - Bücher - Springer Verlag, Japan - 9784431557999 - 31. März 2016
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Yoshida
Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering - Lecture Notes in Physics 1st ed. 2015 edition

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This book emphasizesthe importance of the fascinating atomistic insights into the defects and theimpurities as well as the dynamic behaviors in silicon materials, which havebecome more directly accessible over the past 20 years.

487 pages, 112 black & white illustrations, 180 colour illustrations, 20 black & white tables, biogr

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 31. März 2016
Ursprünglich erschienen 2015
ISBN13 9784431557999
Verlag Springer Verlag, Japan
Seitenanzahl 487
Maße 239 × 161 × 20 mm   ·   966 g
Redakteur Langouche, Guido
Redakteur Yoshida, Yutaka

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