VLSI Design and Test for Systems Dependability - - Bücher - Springer Verlag, Japan - 9784431565925 - 1. August 2018
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VLSI Design and Test for Systems Dependability 1st ed. 2019 edition

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This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

800 pages, 20 Tables, color; 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800

Medien Bücher     Buch
Erscheinungsdatum 1. August 2018
ISBN13 9784431565925
Verlag Springer Verlag, Japan
Seitenanzahl 800
Maße 164 × 242 × 50 mm   ·   1,38 kg
Redakteur Asai, Shojiro

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