VLSI Design and Test for Systems Dependability - - Bücher - Springer Verlag, Japan - 9784431568636 - 26. Januar 2019
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VLSI Design and Test for Systems Dependability Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

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This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

800 pages, 20 Tables, color; 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 26. Januar 2019
ISBN13 9784431568636
Verlag Springer Verlag, Japan
Seitenanzahl 800
Maße 150 × 220 × 10 mm   ·   1,23 kg
Redakteur Asai, Shojiro

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