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Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics
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Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics
232 pages
| Medien | Bücher Gebundenes Buch (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband) |
| Erscheinungsdatum | 25. November 2024 |
| ISBN13 | 9780443297861 |
| Verlag | Elsevier Science Publishing Co Inc |
| Seitenanzahl | 232 |
| Maße | 497 g (Geschätztes Gewicht) |
| Serienredakteur | Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France) |
| Serienredakteur | Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France) |