Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Bücher - Springer Verlag GmbH - 9783211206874 - 2. Juni 2004
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics 2004 edition

Peter Pichler

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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 2. Juni 2004
ISBN13 9783211206874
Verlag Springer Verlag GmbH
Seitenanzahl 554
Maße 178 × 254 × 31 mm   ·   1,18 kg
Sprache Englisch   Deutsch  
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