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Parameterextraktion bei Halblei Baumann German, 2012 edition
Parameterextraktion bei Halblei
Baumann
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.
| Medien | Bücher Buch |
| Erscheinungsdatum | 29. September 2012 |
| ISBN13 | 9783834824943 |
| Verlag | Springer Fachmedien Wiesbaden |
| Seitenanzahl | 148 |
| Maße | 150 × 220 × 20 mm · 259 g |
| Sprache | Deutsch |
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