Parameterextraktion bei Halblei - Baumann - Bücher - Springer Fachmedien Wiesbaden - 9783834824943 - 29. September 2012
Bei Nichtübereinstimmung von Cover und Titel gilt der Titel

Parameterextraktion bei Halblei German, 2012 edition


Möchtest Du eine E-Mail, sobald der Artikel verfügbar ist?
Hast du ein Profil? Anmelden
Zu deiner iMusic Wunschliste hinzufügen
oder

Noch nicht bewertet

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

Medien Bücher     Buch
Erscheinungsdatum 29. September 2012
ISBN13 9783834824943
Verlag Springer Fachmedien Wiesbaden
Seitenanzahl 148
Maße 150 × 220 × 20 mm   ·   259 g
Sprache Deutsch  

Weitere Titel von Baumann

Alle anzeigen

Mere med samme udgiver