Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - Souvik Mahapatra - Bücher - Springer, India, Private Ltd - 9788132225072 - 14. August 2015
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Souvik Mahapatra
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics 1st ed. 2015 edition

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Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 14. August 2015
ISBN13 9788132225072
Verlag Springer, India, Private Ltd
Seitenanzahl 269
Maße 155 × 235 × 20 mm   ·   689 g
Redakteur Mahapatra, Souvik

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